Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств. И. О. Атовмян
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Год выпуска: 2014
Автор произведения: И. О. Атовмян
Серия: Прикладная информатика. Научные статьи
Жанр: Математика
Издательство: НОУ «МФПУ «Синергия»
isbn:
Краткое описание:
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.